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顯微鏡類型

文章出處:自創 責任編輯:中特精密-lfx 發表時間:2025-07-11
  

?顯微鏡根據原理、用途和結構可分為多種類型,以下是主要分類及特點:

 

 1. 光學顯微鏡(Light Microscope

利用可見光成像,是最常見的類型,適用于生物、材料等領域。  

主要類型:  

- 正置顯微鏡:物鏡在上,樣本在下,用于切片觀察(如生物樣本)。  

- 倒置顯微鏡:物鏡在下,樣本在上,用于培養皿中的活細胞觀察。  

- 體視顯微鏡(立體顯微鏡):低倍率、三維成像,用于解剖或工業檢測。  

- 偏光顯微鏡:配備偏振濾光片,用于晶體、礦物或高分子材料分析。  

- 熒光顯微鏡:用特定波長激發樣本熒光,用于標記生物分子。  

- 共聚焦顯微鏡:激光掃描+針孔濾波,獲得高分辨率三維圖像。  

 

 2. 電子顯微鏡(Electron Microscope

用電子束代替光源,分辨率遠超光學顯微鏡,用于納米級觀察。  

主要類型:  

- 透射電子顯微鏡(TEM):電子穿透樣本,顯示內部超微結構(如病毒、細胞器)。  

- 掃描電子顯微鏡(SEM):電子掃描表面,生成三維形貌圖像(如材料表面、昆蟲)。  

- 環境電子顯微鏡(ESEM):可觀察含水或非導電樣本,無需真空。  

 

 3. 掃描探針顯微鏡(SPM

通過物理探針掃描表面,實現原子級分辨率,用于材料科學。  

- 原子力顯微鏡(AFM):探針接觸表面,測量力反饋(適用于生物和材料)。  

- 掃描隧道顯微鏡(STM):測量量子隧穿電流,僅限導電樣本。  

 

 4. 其他特殊類型  

- X射線顯微鏡:利用X射線穿透樣本,用于厚樣本或內部結構(如化石)。  

- 暗場顯微鏡:增強透明樣本邊緣對比度(如細菌觀察)。  

- 數字顯微鏡:直接連接電腦成像,便于記錄和測量。  

 

 選擇依據  

需求

推薦類型

常規生物觀察(如細胞)

正置/倒置光學顯微鏡

納米材料分析

SEM/TEM

活體三維成像

共聚焦顯微鏡

工業檢測(電路、零件)

體視顯微鏡/DIC顯微鏡

 

 注意事項  

- 光學顯微鏡分辨率受波長限制(約200nm),電子顯微鏡需真空環境且樣本制備復雜。  

- 共聚焦和超分辨率顯微鏡(如STED)可突破衍射極限,但成本高昂。  

 

如果需要更具體的應用場景推薦,可以進一步說明需求!

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