?電子顯微鏡（Electron Microscope）是一種利用電子束替代可見光進行高分辨率成像的精密儀器，主要分為以下兩大類：

1. 掃描電子顯微鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）

原理：通過聚焦的電子束掃描樣品表面，接收反射的電子信號（如二次電子、背散射電子）生成圖像。

特點：

分辨率高（可達0.4納米），但通常用于觀察表面形貌。

景深大，成像立體感強。

適合觀察大塊樣品（無需超薄切片）。

應用領(lǐng)域：

材料科學（金屬、陶瓷、半導體表面分析）。

生物學（昆蟲、植物表面結(jié)構(gòu)）。

納米技術(shù)（納米顆粒、薄膜形貌）。

2. 透射電子顯微鏡（TEM, Transmission Electron Microscope）

原理：電子束穿透超薄樣品（厚度＜100納米），通過透射電子和衍射信號成像。

特點：

分辨率更高（可達0.05納米），可觀察原子級結(jié)構(gòu)。

需樣品極薄（需復雜制樣，如超薄切片或離子減薄）。

可分析晶體結(jié)構(gòu)、化學成分（結(jié)合EDS或EELS附件）。

應用領(lǐng)域：

材料科學（晶體缺陷、原子排列）。

生物學（細胞超微結(jié)構(gòu)、病毒顆粒）。

化學（納米材料原子級表征）。

其他衍生類型

掃描透射電鏡（STEM）：結(jié)合SEM和TEM功能，適合原子級元素分析。

環(huán)境掃描電鏡（ESEM）：允許樣品在低真空或濕潤環(huán)境中觀察（如生物活體）。

聚焦離子束電鏡（FIB-SEM）：結(jié)合離子束切割和SEM成像，用于三維重構(gòu)或微加工。